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針對RoHS檢測設計開發(fā);測量貴金屬如金、銀、鉑等效果甚佳;分析測量微量有害元素Cd、Pb、Cr、Hg、Br ;提供專業(yè)玩具安全檢測,亦可用于測量鍍層厚度和全元素分析.

采用上先進的由美國生產的半導體制冷的型探測器，電制冷，無需液氮制冷，可常溫保存，使用方便。

EDX-Pocket-Ⅱ是一款專為戶外、大型工程、移動檢測研制開發(fā)的全新XRF。只需片刻，它即可實現(xiàn)對RoHS指令中元素的全面測量。這款從醞釀開發(fā)都產品問世歷時幾載的全新理念儀器，滿載著天瑞人凝重的智慧和心血。

Thick 800 X熒光光譜儀主要針對大件部件的鍍層厚度和含量的無損、快速測定，采用上照式，通過三維的移動和激光定位，實現(xiàn)對尺寸范圍較大部件進行鍍層厚度和含量的點測量.